| 标准类型 | 国军标/国际标号 | 国军标/国际名称 | 参考美军编号 |
| 可靠性试验方法 | GJB 128A-1997 | 半导体分立器件试验方法 | MIL-STD-750H |
| GJB 360A-1996 | 电子及电气元件试验方法 | MIL-STD-202F | |
| GJB 548B-2005 | 微电子器件试验方法和程序 | MIL-STD-883D | |
| GJB 121701991 | 电连接器试验方法 | MIL-STD-883D | |
| GB2689 | 寿命试验和加速寿命试验方法 | MIL-STD-1344A | |
| 失效率鉴定方法 | GB/T 1772-1979 | 电子元器件失效率试验方法 | N/A |
| GJB 2649-1996 | 军用电子元器件失效率抽样方案和程序 | N/A | |
| 失效分析方法 | GJB 3157-1998 | 半导体分立器件失效分析方法和程序 | N/A |
| GJB 3233-1998 | 半导体集成电路失效分析程序和方法 | N/A | |
| GJB 4027A-2006 | 军用电子元器件破坏性物理分析方法 | MIL-STD-1580A |
我国国家标准和国家军用标准规定的元器件可靠性规范示例